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Die patentierte und prämierte TrueSurface Option für das konfokale Raman Imaging von WITec hält die Probe während der Messung immer im Fokus.
Raman-Mikroskopie mit Nachführung entlang der Topografie der Probe ist eine Entwicklung von WITec. Ein in das Mikroskop integriertes Profilometer tastet die Oberfläche während der Messung ab.
Proben mit rauer, zerklüfteter oder schräger Oberfläche können jetzt ohne aufwändige Präparation präzise chemisch charakterisiert werden. Die Untersuchung ist entlang der Oberfläche oder in einem definierten Abstand dazu möglich und liefert auch Informationen über die dreidimensionale Beschaffenheit.
Konfokale Mikroskopie zeichnet sich durch eine starke Unterdrückung von Licht aus, dessen Urspung außerhalb der Fokusebene liegt. Das TrueSurface-Model erlaubt es, selbst große und stark unregelmäßige Proben während der Messung permanent im Fokus zu halten.
Der Sensor kontrolliert den Abstand zwischen Objektiv und Probe permanent und hält ihm mit sub-Mikrometer-Genauigkeit. So können auch Veränderungen während Langzeitmessungen ausgeglichen und scharfe Bilder aufgenommen werden.
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