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Der modulare Aufbau der WITec Mikroskopiesysteme ermöglicht es, verschiedene bildgebende Verfahren wie Raman Imaging, Fluoreszenz, Lumineszenz, Rasterkraftmikroskopie (AFM), Nahfeldmikroskopie (SNOM oder NSOM) und Rasterelektronenmikroskopie (SEM) in einem einzigen Gerät zu kombinieren, ohne die Analyse- und Bildqualität zu beeinträchtigen.
Die integrierte WITec-Software-Schnittstelle ermöglicht eine benutzerfreundliche Messsteuerung, eine schnelle und einfache Korrelation der Ergebnisse und eine anschließende Bild-Überlagerung.
Die Raman-SEM (RISE) Kombination ist eine einzigartige korrelative Mikroskopietechnik von WITec. Strukturen im nm-Bereich, die durch Rasterelektronenmikroskopie (SEM) erfasst werden, können mit chemischem Raman Imaging vom gleichen Probenbereich korreliert werden.
Durch die Kombination von konfokalem Raman Imaging mit AFM kann die chemische Zusammensetzung der Probe mit den Oberflächeneigenschaften verknüpft werden. Diese beiden komplementären Techniken sind in kombinierten Raman-AFM WITec-Mikroskopen für eine flexible und umfassende Probencharakterisierung verfügbar.
Die Kombination von Raman und SNOM liefert aussagekräftige Ergebnisse für anspruchsvolle experimentelle Anforderungen.
Weitere Informationen zu Raman-SNOM-Mikroskopen
Topographisches Raman Imaging (TrueSurface Microscopy) für Untersuchungen an rauen oder schiefen Proben.
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