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alpha300 RA – Raman-AFM-Mikroskop

Chemische Charakterisierung und Oberflächen-Analyse in einem System

Das alpha300 RA war das weltweit erste korrelative Raman-AFM-System auf dem Markt und noch immer setzt es die Maßstäbe bei kombinierten Raman-AFM-Systemen. Das alpha300 RA vereint alle Funktionen des Raman-Mikroskops alpha300 R  mit denen des Rasterkraftmikroskops alpha300 A. Die Kombination aus leistungsstarkem chemischem Imaging und nano-analytischer Oberflächenuntersuchung bietet eine umfassende Probencharakterisierung.

Mit dem alpha300 RA sind zwei komplementäre Imaging-Techniken in einem Instrument vereint worden. Im Sinne der Benutzerfreundlichkeit und Zuverlässigkeit werden beide Betriebsmodi von derselben Software gesteuert. Durch Drehen des Objektivrevolvers kann man ganz einfach zwischen den Mikroskopietechniken wechseln. Dabei werden alle Parameter automatisch justiert, so dass exakt derselbe Probenbereich mit beiden Techniken untersucht werden kann. Die Software ermöglicht anschließend die Korrelation zwischen Raman- und AFM-Ergebnissen und die Überlagerung der Bilder.

Das alpha300 RA ist außerdem ideal geeignet für kombinierte Imaging-Techniken wie TERS (hochauflösendes Raman-Imaging) Messungen.


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Charakteristische Eigenschaften


Anwendungsbeispiele

Kombinierte Raman-AFM-Messung eines Polymers.
Kombinierte Raman-AFM-Messung desselben Bereichs einer Polymermischung. Die Mischung enthält gleiche Mengen Polystyrol, SBR (Styrol-Butadien-Kautschuk) und EHA (2-Ethylhexylacrylat). Raman-Bild (links): grün = PS, rot = SBR, blau = EHA.
alpha300 RA Raman AFM paper
Konfokale Raman-AFM-Bilder: Holzextrakte auf Zellulosefasern. Farbkodiertes Raman-Bild mit eingeblendetem AFM-Bild.
alpha300 RA Raman AFM stress in silicon
Kombinierte Raman-AFM-Messung von Spannung in Silizium. Links: 10 x 10 µm² AFM-Bild mit Topografie (oben) und Tiefenprofil (unten). Rechts: Das Raman-Bild desselben Probenbereichs zeigt Spannungen im Silizium.

Spezifikationen

Raman Mikroskopietechniken

  • Raman Imaging: Aufnahme eines vollständigen Raman-Spektrums an jedem Bildpixel
  • Planare Scans (x-y-Achsen) sowie Tiefenscans (z-Achse)
  • Bildstapel: 3D konfokales Raman-Imaging
  • Zeitreihen
  • Raman-Spektrenaufnahmen an Einzelpunkten
  • Tiefenprofile an Einzelpunkten
  • Spektrometer mit Faserkopplung, speziell entwickelt für Raman-Mikroskopie und für Messungen mit niedriger Lichtintensität
  • Konfokale Fluoreszenz-Mikroskopie
  • Hellfeld-Mikroskopie

 

AFM Techniken:

  • Kontakt-Modus
  • AC-Modus (Tapping Mode)
  • Digitaler Pulsed Force Modus (DPFM)
  • Lift Mode™
  • Magnetkraftmikroskopie (Magnetic Force Microscopy MFM)
  • Elektrische Kraftmikroskopie (Electric Force Microscopy EFM)
  • Phasenbild
  • Kraft-Abstands-Kurven
  • Nanomanipulation und Nanolithografie
  • Reibungskraftmikroskopie (Lateral Force Microscopy LFM)
  • Chemische Kraftmikroskopie (Chemical Force Microscopy CFM)
  • Strom-Spannungsmikroskopie
  • Weitere Modi optional 

 

Computer-Schnittstelle:

  • WITec Software Suite zur Kontrolle des Gerätes und des Messvorgangs, für Datenauswertung und -verarbeitung

Mikroskop-Eigenschaften:

  • Optisches Forschungsmikroskop mit 6x Objektivrevolver
  • Videosystem: Okular-Farbbild-Videokamera
  • LED-Weißlichtquelle für Köhler'sche Beleuchtung
  • Hochempfindliche schwarz/weiß-Videokamera zur Ansicht der Probe und der AFM-Spitze in Transmission
  • Manuelle Positionierung der Probe in x- und y-Richtung
  • Mikroskopbasis mit Schwingungsdämpfung
  • Piezo-getriebener Probentisch

 

Optionen und Erweiterungen

  • Zusätzliche Laser mit unterschiedlichen Wellenlängen
  • Zusätzliche UHTS Spektrometer (UV, VIS, NIR)
  • Automatisierte, motorisierte Probenpositionierung mit Piezo-Scan-Tischen
  • Automatisiertes konfokales Raman Imaging
  • Automatisierte Messungen mehrere Bereiche oder Einzelspektren
  • Ultraschnelles Raman Imaging
  • Erweiterbar für Epifluoreszenz-Messungen
  • Adapter für große Proben
  • TrueSurface für topographisches Raman Imaging auf unebenen Flächen
  • Autofokus
  • Dunkelfeld-Mikroskopie, Phasenkontrast-Mikroskopie und DIC

 

TERS

Das alpha300 RA Mikroskopsystem von WITec, das Raman- und AFM-Techniken in einem Gerät kombiniert, kann für TERS-Experimente eingesetzt werden. Die Beleuchtung kann flexibel gestaltet werden: von oben, unten oder von der Seite.


Kontakt

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Anwendungen

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