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alpha300 RS – Raman-SNOM-Mikroskop

Korrelative Raman- und Nahfeld-Mikroskopie

Das alpha300 RS erfüllt komplexe experimentelle Ansprüche: Es bietet konfokales Raman-Imaging und Nahfeld-Mikroskopie integriert in einem System und vereint alle Funktionen des Nahfeld-Mikroskops alpha300 S, des Raman Mikroskops alpha300 R und viele AFM-Techniken. Damit ist es auch für hochauflösende Raman-Imaging-Techniken wie Nahfeld-Raman-Imaging geeignet. 


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Charakteristische Eigenschaften


Anwendungsbeispiel

alpha300 RS Nearfield Raman Graphene
Links: Topografie von exfoliertem Graphen, bestimmt während der Nahfeld-Raman-Messung, und Topografiekurve entlang der blauen Linie. Rechts: G-Banden-Intensität des gleichen Bereiches der Probe als Nahfeld-Raman-Bild und Intensität der G-Bande entlang der roten Linie.

Spezifikationen

Raman Mikroskopietechniken

  • Raman Imaging: Aufnahme eines vollständigen Raman-Spektrums an jedem Bildpixel
  • Planare Scans (x-y-Achsen) sowie Tiefenscans (z-Achse)
  • Bildstapel: 3D konfokales Raman Imaging
  • Zeitreihen
  • Raman-Spektrenaufnahmen an Einzelpunkten
  • Tiefenprofile an Einzelpunkten
  • Ultraschnelles Raman Imaging optional erhältlich
  • Spektrometer mit Faserkopplung, speziell entwickelt für Raman-Mikroskopie und für Messungen mit niedriger Lichtintensität
  • Konfokale Fluoreszenzmikroskopie
  • Hellfeld-Mikroskopie

 

SNOM Techniken:

  • Scanning Nahfeld Optische Mikroskopie Modi: von unten nach oben und umgekehrt, Sammelmodus
  • Konfokale Mikroskopie-Modi:
    • Transmission
    • Reflektion
    • Fluoreszenz (optional)
    • SNOM-AFM-Kombinationen: AFM-Betriebsmodus des alpha300 A inbegriffen oder optional
    • Erfassung von Kraft-Kurven und Licht-Abstands-Kurven
    • fixierte Belichtung von unten
    • Interne Totalreflektions-Mikroskopie (optional)

 

AFM Operation Modes

  • Kontakt-Modus
  • Reibungskraft-Modus
  • weitere optional

Mikroskop-Eigenschaften:

  • Optisches Forschungs-Mikroskop mit 6x Objektivrevolver
  • Videosystem: Okular-Farbbild-Videokamera
  • LED Weißlichtquelle für Köhler'sche Beleuchtung der Probe und der AFM-Spitze
  • Hochempfindliche schwarz/weiß-Videokamera zur Darstellung der Probe und der AFM-Spitze in Transmission
  • Manuelle Positionierung der Probe in x- und y-Richtung
  • Piezo-getriebener Probentisch
  • Mikroskopbasis mit aktiver Schwingungsdämpfung

 

Optionen und Erweiterungen

  • Zusätzliche Laser mit unterschiedlichen Wellenlängen
  • Zusätzliche UHTS Spektrometer (UV, VIS, NIR)
  • Automatisierte, motorisierte Probenpositionierung mit Piezo-Scan-Tischen
  • Automatisiertes konfokales Raman Imaging
  • Automatisierte Messungen mehrere Bereiche oder Einzelspektren
  • Ultraschnelles Raman Imaging
  • Erweiterbar für Epifluoreszenz-Messungen
  • Adapter für große Proben
  • TrueSurface für topographisches Raman Imaging auf unebenen Flächen
  • Autofokus
  • Dunkelfeld-Mikroskopie, Phasenkontrast-Mikroskopie und DIC

 

Computer-Schnittstelle:

  • WITec Software Suite zur Kontrolle des Gerätes und des Messvorgangs, für Datenauswertung und -verarbeitung

Kontakt

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Anwendungen

Coatings & Thin FilmsLife ScienceMaterials ScienceNano-Carbon & 2D MaterialsPolymersSemiconductors & Photovoltaics