alpha300 RS – Raman-SNOM-Mikroskop

alpha300 RS – Raman-SNOM microscope by WITec

Korrelative Raman- und Nahfeld-Mikroskopie

Das alpha300 RS erfüllt komplexe experimentelle Ansprüche: Es bietet konfokales Raman-Imaging und Nahfeld-Mikroskopie integriert in einem System und vereint alle Funktionen des Nahfeld-Mikroskops alpha300 S, des Raman Mikroskops alpha300 R und viele AFM-Techniken. Damit ist es auch für hochauflösende Raman-Imaging-Techniken wie Nahfeld-Raman-Imaging geeignet.

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Charakteristische Eigenschaften

Alle Funktionen der Mikroskoptypen alpha300 R (Raman) und alpha300 S (SNOM) in einem Gerät
Exzellente Kombination aus hochauflösender Oberflächenmikroskopie (SNOM) und chemischem Imaging (Raman)
Ideal für Kombinationstechniken wie Nahfeld-Raman-Imaging
Nutzerfreundlicher Wechsel zwischen den Messtechniken durch Drehen des Objektivrevolvers und automatische Geräte-Justierung
Bewegung der Probe zwischen den Messungen nicht nötig

Anwendungsbeispiel

Links: Topografie von exfoliertem Graphen, bestimmt während der Nahfeld-Raman-Messung, und Topografiekurve entlang der blauen Linie. Rechts: G-Banden-Intensität des gleichen Bereiches der Probe als Nahfeld-Raman-Bild und Intensität der G-Bande entlang der roten Linie.

Spezifikationen

Raman Mikroskopietechniken

Raman Imaging: Aufnahme eines vollständigen Raman-Spektrums an jedem Bildpixel
Planare Scans (x-y-Achsen) sowie Tiefenscans (z-Achse)
Bildstapel: 3D konfokales Raman Imaging
Zeitreihen
Raman-Spektrenaufnahmen an Einzelpunkten
Tiefenprofile an Einzelpunkten
Ultraschnelles Raman Imaging optional erhältlich
Spektrometer mit Faserkopplung, speziell entwickelt für Raman-Mikroskopie und für Messungen mit niedriger Lichtintensität
Konfokale Fluoreszenzmikroskopie
Hellfeld-Mikroskopie

SNOM Techniken:

Scanning Nahfeld Optische Mikroskopie Modi: von unten nach oben und umgekehrt, Sammelmodus
Konfokale Mikroskopie-Modi:
- Transmission
- Reflektion
- Fluoreszenz (optional)
- SNOM-AFM-Kombinationen: AFM-Betriebsmodus des alpha300 A inbegriffen oder optional
- Erfassung von Kraft-Kurven und Licht-Abstands-Kurven
- fixierte Belichtung von unten
- Interne Totalreflektions-Mikroskopie (optional)

AFM Operation Modes

Kontakt-Modus
Reibungskraft-Modus
weitere optional

Mikroskop-Eigenschaften:

Optisches Forschungs-Mikroskop mit 6x Objektivrevolver
Videosystem: Okular-Farbbild-Videokamera
LED Weißlichtquelle für Köhler'sche Beleuchtung der Probe und der AFM-Spitze
Hochempfindliche schwarz/weiß-Videokamera zur Darstellung der Probe und der AFM-Spitze in Transmission
Manuelle Positionierung der Probe in x- und y-Richtung
Piezo-getriebener Probentisch
Mikroskopbasis mit aktiver Schwingungsdämpfung

Optionen und Erweiterungen

Zusätzliche Laser mit unterschiedlichen Wellenlängen
Zusätzliche UHTS Spektrometer (UV, VIS, NIR)
Automatisierte, motorisierte Probenpositionierung mit Piezo-Scan-Tischen
Automatisiertes konfokales Raman Imaging
Automatisierte Messungen mehrere Bereiche oder Einzelspektren
Ultraschnelles Raman Imaging
Erweiterbar für Epifluoreszenz-Messungen
Adapter für große Proben
TrueSurface für topographisches Raman Imaging auf unebenen Flächen
Autofokus
Dunkelfeld-Mikroskopie, Phasenkontrast-Mikroskopie und DIC

Computer-Schnittstelle:

WITec Software Suite zur Kontrolle des Gerätes und des Messvorgangs, für Datenauswertung und -verarbeitung

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