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Suite SEVEN – Systemkontrolle und Datenanalyse

Vom Experimentaufbau über die Datenerfassung bis zur Nachbearbeitung in einer Softwareumgebung.

Suite SEVEN integriert neue Eigenschaften, die die ohnehin schon leistungsstarke Software noch transparenter, intuitiver und präziser machen. Mit den neuen Funktionen zur Dokumentation, Navigation, Zertifizierung und Datenverarbeitung erreichen Sie die höchste Leistungsfähigkeit Ihres Mikroskops und erzielen die besten Ergebnisse aus Ihren Messdaten.


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Neue Funktionen

  • DataTrace: Speichert Mess- und Analyseeinstellungen und verfügt über einen Metadaten Viewer mit Zeitstempeln und Exportparametern zur Reproduzierbarkeit
  • Optimierter Projektmanager: Beinhaltet eine Symbolleiste mit Suchfunktion, eine hierarchisch dargestellte Datenstruktur und eine selektive Anzeige von Datenobjekten 
  • Spectral Certification: Verwendet das Spektrum einer Referenzprobe, um die Systemkalibrierung mit standardisierten Daten zu überprüfen 
  • Advanced Cosmic Ray Removal: Erleichtert die Detektion, Auswahl und Entfernung kosmischer Strahlen

Hauptfunktionen

  • TrueOrigin portables Koordinatensystem: Lokalisiert denselben Probenbereich in verschiedenen Messungen und Mikroskopen
  • Workflow Manager: Automatisiert die Abläufe in Ihren optimierten und standardisierten Messungen
  • State Manager: Definiert, speichert und lädt Ihre Standardgerätekonfigurationen
  • Multi-User-Verwaltung: Reguliert Zugriffs- und Bearbeitungsrechte für jedes Nutzerkonto

Entdecken Sie die WITec Software Pakete


Suite SEVEN

  • Gerätekonfiguration und -kontrolle
  • Schnelle Datenerfassung
  • Datenauswertung und -verarbeitung 
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Suite SEVEN+

  • Alle Funktionen der Basisversion
  • Erweiterte Tools zur Datenverarbeitung
  • TrueComponent Analyse

  

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Weitere Software 

  • ParticleScout
  • TrueMatch
  • Multi-User-Verwaltung
    Erfahren Sie mehr

    Das WITec Suite SEVEN Basis Software Paket

    Die Suite SEVEN Basis Software Module bieten Ihnen leistungsstarke Plattformen für die Gerätesteuerung und Datenanalyse.

    Systemsteuerung

    • Ein intuitives Softwarepaket für alle Messungen und Techniken
    • Optimierte Benutzeroberfläche je nach Messmodus
    • Anpassbare Standardkonfigurationen für wiederkehrende Messungen
    • Schnelle Datenerfassung und -verarbeitung durch intelligente Nutzung der Computerressourcen (>1300 Raman-Spektren pro Sekunde)
    • TrueScanTM für exakte Positionierung, auch bei sehr schnellem Scannen
    • Alle Analysefunktionen zur On- und Offline Datenauswertung und Nachbearbeitung direkt integriert
    • TrueOrigin, WITec’s portables Koordinatensystem, zur Kartierung der Probe relativ zu markanten Merkmalen auf der Probe selbst oder dem Probenhalter. Es erleichtert die Korrelation von Daten, die mit mehreren Techniken an der gleichen Position erfasst wurden, selbst wenn die Probe dazu zwischen verschiedenen Geräten transportiert wurde. Importierte Bilder, die mit einer externen Kamera oder einem anderen Mikroskop aufgenommen wurden, können für die Probennavigation verwendet werden. TrueOrigin ist mit dem Shuttle & Find-System von ZEISS kompatibel.

    Datenauswertung und -verarbeitung

    • Zugriff auf Metadaten der Messeinstellungen und Schritte der Datenanalyse mit DataTrace
    • Führung durch alle Schritte der Datenverarbeitung und Bilderzeugung (Software-Assistent)
    • Graph Demixer: Substraktion oder Addition von Spektren mit wählbaren Gewichtungsfaktoren
    • Mehrere Algorithmen zur Hintergrundsubtraktion und Entfernung kosmischer Strahlung
    • Curve-Fitting-Tool für Einzelspektren: enthält mehrere vordefinierte Fitfunktionen (wie Gauß-, Lorentz- und Pseudo-Voigt-Funktionen), Multi-Peak-Fitting und Programmierung benutzerdefinierter Funktionen
    • Finden und Beschriften von Peaks im Spektrum
    • Import von externen Bildern für konsistente Projektdokumentation
    • Datenexport in verschiedene Formate, darunter ASCII, JCamp-DX, SPC, MATLAB, Zeiss CZI and HDF5
    • Demoversionen aller Funktionen von Project SEVEN+ enthalten


    Das Projekt SEVEN+ Paket: Erweiterte Funktionen zur Datenverarbeitung

    Projekt SEVEN+ ist die Softwareerweiterung für zusätzliche Funktionen zur Datenverarbeitung. Eine Vielzahl von intelligenten Algorithmen und Werkzeugen ermöglicht spezialisierte Analysen und Visualisierung auf Expertenniveau. Project SEVEN+ ist als Einzelplatzlizenz erhältlich und alle Funktionen sind als Demoversionen in Project SEVEN enthalten.

    Hauptmerkmale

    • Advanced Cosmic Ray Removal Tool
    • Clusteranalyse (automatische Klassifizierung, Erzeugung von Durchschnittsspektren und Visualisierung von Clustern in Bildern)
    • TrueComponent Analyse für Raman-Bilder: Fortschrittlicher Algorithmus, der automatisch die Anzahl der Probenkomponenten bestimmt, ihre Spektren unterscheidet und sie im Bild lokalisiert
    • Hauptkomponentenanalyse (PCA)
    • Fortschrittliches Curve-Fitting-Tool zum Fitten multispektraler Datensätze
    • Überlagerung von Bildern, die mit verschiedenen Techniken aufgenommen wurden
    • Verschiedene Filter (z. B. Fourierfilter, anisotrope Filter, Kantenfilter, Schärfefilter, benutzerdefinierte Filter und viele mehr)
    • Graphen- und Bildreparatur: Algorithmen zur Beseitigung von Pixelfehlern durch Ersetzung von Daten, z. B. Interpolation oder Texturanalyse
    • Nichtnegative Matrixfaktorisierung (NMF)

    Optionale Softwarepakete, kompatibel mit Suite SEVEN


    Anwendungsbeispiele

    Korrelative Raman-AFM-Studie einer Polymermischung

    Raman-Bild und AFM-Topografie einer Polymermischung
    Das Raman-Bild (links) zeigt die Phasentrennung in einer Mischung aus PMMA (rot) und PS (blau). Das AFM-Bild (rechts) visualisiert die Topografie desselben Probenbereichs.
    Raman-Spektren von PMMA und PS.
    Raman-Spektren von PMMA (rot) und PS (blau).
    Überlagerung von AFM-Topographie und Raman-Bild einer Polymermischung
    Die Überlagerung von AFM-Topographie und Raman-Bild korreliert die strukturellen und chemischen Informationen.

    Hochauflösende Raman-Mikroskopie einer pharmazeutischen Tablette

    Raman-Mikroskopie einer Schmerztablette
    Großflächiges, hochauflösendes Raman-Bild einer Schmerztablette. Das Raman-Bild (links) ist anhand der Raman-Spektren (rechts) der einzelnen Komponenten farbkodiert, die mit einer TrueComponent Analyse automatisch unterschieden und mit TrueMatch identifiziert wurden.

    RISE- (Raman-SEM) Mikroskopie einer Batterie

    RISE- (Raman-SEM) Mikroskopie einer Batterie
    Das RISE-Bild (Überlagerung von Raman- und SEM-Bild) der Kathode einer Lithium-Ionen-Batterie (LIB). LIB-Partikel mit unterschiedlichen Zusammensetzungen (blau, grün) sind in eine Kohlenstoffmatrix (rot) eingebettet.

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