alpha300 S – optisches Rasternahfeldmikroskop (SNOM)

Bildgebung jenseits der Beugungsgrenze

Das alpha300 S ist ein benutzerfreundliches Nahfeld-Mikroskop (SNOM), das die Vorteile von SNOM, konfokaler Mikroskopie und Rasterkraftmikroskopie (AFM) in einem einzigen Gerät vereint. Der Wechsel zwischen den verschiedenen Mikroskopietechniken erfolgt einfach durch die Drehung des Objektivrevolvers. Das alpha300 S verwendet spezielle SNOM-Cantilever-Sensoren, die eine räumliche Auflösung jenseits der Beugungsgrenze ermöglichen.

Das alpha300 S von WITec arbeitet mit einem speziellen Nahfeld-Objektiv. Es ist am Objektivrevolver angebracht und ermöglicht SNOM- und AFM-Messungen. Die SNOM-Sensoren werden magnetisch an einem Ende des Objektivarms befestigt, so dass man simultan den Sensor sowie auch die Probe sehen kann. Da der Arm dreidimensional beweglich ist, lässt sich der Cantilever schnell und präzise justieren. Alle Bewegungen werden über die WITec Control Software gesteuert. Das Objektiv fokussiert nicht nur den Anregungslaser, sondern auch den für die Distanzkontrolle benutzten abgelenkten Laserstrahl. Die stabile Optik garantiert rauscharme Messungen ohne Interferenz zwischen den beiden Lasersystemen. Mit AFM-Cantilever-Sensoren lässt sich das alpha300 S auch als Rasterkraftmikroskop verwenden.