Beschichtungen & Dünnschichten

Beschichtungen und dünne Schichten wurden entwickelt, um neue Oberflächeneigenschaften zu kreieren oder vorhandene zu verändern. In vielen Fällen ist die Verbindung zwischen Struktur, Morphologie und Materialeigenschaften unerlässlich für die Optimierung des Materialdesigns. Die Imagingsysteme von WITec sind besonders für die Analyse von aus mehreren Lagen bestehenden Schichten und Dünnschichten geeignet, denn sie ermöglichen die Visualisierung individueller chemischer Komponenten sowie der physikalischen Eigenschaften der verschiedenen Materialbestandteile.

Zur Untersuchung von Beschichtungen und Dünnschichten ist eine möglichst gute Tiefenauflösung der bildgebenden Verfahren von enormer Bedeutung, denn nur damit lassen sich die Schichten in z-Richtung unterscheiden. Die Tiefenauflösung hängt insbesondere von der Konfokalität des Mikroskops ab. Daher sind für solche Analysen die Imagingsysteme von WITec besonders geeignet, denn sie ermöglichen außergewöhnlich gute konfokale Bildgebung bei Tiefenscans.

Die vielseitigen Instrumente von WITec nutzen verschiedene bildgebende Verfahren, um aus den Messdaten möglichst umfassende Erkenntnisse zu gewinnen. Verschiedene Kombinationen können in einem Mikroskop-Aufbau miteinander kombiniert werden: konfokales Raman-Imaging, Rasterkraftmikroskopie (AFM), optische Nahfeld-Mikroskopie (SNOM) und Rasterelektronenmikroskopie (SEM). Konfokales Raman-Imaging liefert chemische Informationen, AFM detektiert Topographie, Struktur und physikalische Eigenschaften wie Steifigkeit und Adhäsion der Probenoberfläche. SNOM dagegen ermöglicht hochauflösende Messungen jenseits der Beugungsgrenze. Die Konfigurationen sämtlicher WITec-Instrumente können auf- bzw. nachgerüstet werden, so dass die Systeme um neue Analyseverfahren erweitert werden können.