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RISE – Raman-SEM-Mikroskope

Die weltweit ersten integrierten Raman-Imaging- und Rasterelektronen-Mikroskope

RISE Mikroskopie ist eine neue korrelative Mikroskopietechnik, die elektronenoptische Verfahren (Scanning Electron Microscopy, SEM) mit Raman Imaging kombiniert. Mit RISE lassen sich Struktur, Oberfläche und molekulare Bestandteile an derselben Probenstelle messen und anschließend diese Informationen miteinander in Beziehung setzen.

RISE vereint alle Funktionen eines eigenständigen SEM und eines konfokalen Raman-Mikroskops von WITec in einem Gerät:

  • Schneller und nutzerfreundlicher Wechsel zwischen Raman und SEM Messungen
  • Automatisierter Probentransfer zwischen den beiden Messpositionen
  • Software-gesteuerte Durchführung der Messungen
  • Korrelation der Messergebnisse und Bild-Überlagerung
  • Keine Kompromisse hinsichtllich SEM und Raman Imaging-Qualitäten


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Literatur

WITec RISE Broschüre

Application Note RISE Mikroskopie (Raman-SEM)

Application Note Raman-SEM (RISE) Imaging an 2D-Materialien


Die RISE Technik

Technique RISE

Bei der RISE-Mikroskopie wird die Probe innerhalb der Vakuumkammer automatisch zur jeweiligen Messposition transferiert. Der Wechsel zwischen den Untersuchungsmethoden ist daher extrem einfach. Die RISE-Erweiterung ist erhältlich für Elektronenmikroskope der Firmen TESCAN Orsay Holding a. s. (Tschechische Republik) und ZEISS (Deutschland). Weitere auf Anfrage.


Anwendungsbeispiele

RISE Raman SEM Brain Tissue
Überblendetes Raman-SEM-Bild von Hamsterhirngewebe. Parameter des farbkodierten Raman-Bildes: Grün: Weiße Substanz; Rot: Graue Substanz. 100 µm x 100 µm, 300 x 300 Pixel = 90.000 Spektren, 50 ms Integrationszeit pro Spektrum.
RISE Raman SEM GaAs
Überblendetes Raman-SEM-Bild einer Galliumarsenid (GaAs) Halbleiterprobe. Parameter des farbkodierten Raman-Bildes: Gelb: Goldsubstrat; Rot: GaAs; Blau: Reste aus der Produktion. 50 µm x 50 µm, 300 x 300 Pixel = 90.000 Spektren, 34 ms Integrationszeit pro Spektrum.
RISE Raman SEM Polymers
Überblendetes Raman-SEM-Bild einer PMMA-PS-Polymermischung. Parameter des farbkodierten Raman-Bildes: Grün: Polystyrol; Rot: Polymethylmethacrylat.
RISE Raman SEM Diorite
RISE Mikroskopie und EDX-Analyse einer geologischen Probe. Links: Kombiniertes SEM-EDX-Bild. Es können drei Elementgruppen unterschieden werden (Orange: Si, O; Violett: Si, Al, Fe, Ca; Grün: Na). Mitte: Das überlagerte Raman-SEM-Bild desselben Probenbereichs zeigt die Verteilung der molekularen Komponenten. Rechts: Zugehörige Raman Spektren.

Charakteristische Eigenschaften

Rasterelektronen-Mikroskopie:

Rasterelektronenmikroskopie
MIt einem SEM lassen sich eine Reihe von unterschiedlichen Analysemethoden anwenden. RISE ermögicht zusätzlich die chemische Analyse der Probenzusammensetzung auf molekularer Ebene.

Konfokales Raman Mikroskop:

  • Konfokales Raman Imaging leistungsstark hinsichtlich Geschwindigkeit, Sensitivität und Auflösung
  • Spektrale Bilderzeugung; Aufnahme eines vollständigen Raman-Spektrums an jedem Bildpixel
  • Exzellente räumliche Auflösung
  • Hervorragende Tiefenauflösung, ideal für 3D-Aufnahmen und Tiefenprofile
  • Option für ultraschnelles Raman Imaging
  • Ultra-high throughput Spektroskopiesystem für höchste Empfindlichkeit und beste spektrale Auflösung
  • Zerstörungsfreie Mikroskopietechnik: weder Färbung noch Fixierung der Proben nötig

RISE Mikroskopie eignet sich für Sie ...

... als Raman-Einsteiger, denn Sie werden von der nutzerfreundlichen und intuitiven Bedienung des Geräts profitieren.

... als erfahrener Raman-Nutzer, denn Sie werden begeistert sein von der außergewöhnlichen Leistungsfähigkeit dieses korrelativen Mikroskops, das beide Techniken in einem System vereint.

Materialwissenschaften, Nanotechnologie, Polymerforschung, Geowissenschaften, Lebenswissenschaften, pharmazeutische Industrie ...

... unabhängig von Ihrem Fachgebiet wird die RISE Mikroskopie Ihre Forschungsarbeit durch einzigartige Untersuchungsmöglichkeiten unterstützen und stärken.


RISE Mikroskopie gewinnt angesehenen Photonics Prism Award 2015

Das RISE Mikroskop ist unter den Gewinnern des Photonics Prism Awards 2015. Eine Expertenjury hat dem korrelativen RISE Mikroskop den international renommierten Preis in der Kategorie „Messtechnik“ zuerkannt. Der Photonics Prism Award wird jährlich von der Internationalen Gesellschaft für Optik und Photonik (SPIE) und dem Verlagshaus Photonics Media an Topinnovatoren der internationalen Photonik-Branche verliehen.

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