Weißlicht- und Fluoreszenzmikroskopie

WITec Mikroskope sind mit einer Köhlerschen Beleuchtung und optimierten optischen Komponenten für hochqualitative Weißlichtbilder ausgestattet. Verschiedene Optionen ermöglichen Hellfeld-, Dunkelfeld- und Differentialinterferenzkontrastmikroskopie (DIC) im Reflektions- und Transmissionsmodus. Zusätzlich können für polarisationsabhängige Anwendungen Polarisationsfilter in den Weißlichtstrahlengang integriert werden.

WITec Systeme können optional mit Fluoreszenzmikroskopie kombiniert werden.

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Eigenschaften

Köhlersche Beleuchtung für hochqualitative Weißlichtbilder
Scharfe und großflächige Bilder mithilfe automatischer Fokus-Stacking und Bild-Stitching Funktionen
Homogene Probenausleuchtung und konstanter Fokus im gesamten Bildbereich
Dunkelfeld- und Differentialinterferenzkontrastmikroskopie (DIC) für dünne und transparente Proben
Polarisationsoptionen für verschiedene Transmissions- und Reflektionskonfigurationen
Integrierbare Epifluoreszenzmikroskopie: Monochromkamera und passende Fluoreszenzfilter für eine große Bandbreite an kompatiblen Wellenlängen

Weißlichtmikroskopieoptionen

WITec Mikroskope können mit Hellfeldoptionen im Reflektions- und Transmissionsmodus ausgestattet werden. Sie sind zudem kompatibel mit Dunkelfeld- und Differentialinterferenzkontrastmikroskopie (DIC).

Fokus-Stacking und Bild-Stitching

Alle Lichtmikroskopietechniken in WITec-Mikroskopen verfügen über ein softwaregesteuertes Fokus-Stacking und Bild-Stitching. Mit Fokus-Stacking können Sie unebene Proben mithilfe mehrerer Bilder einfach und schnell scharf darstellen. Die Bild-Stitching Funktion fügt Bilder einzelner Teilausschnitte automatisch zu einem großflächigen Bild mit hoher Auflösung zusammen.

Polarisationsabhängige Weißlichtmikroskopie

Die Weißlichtmikroskopie in WITec Systemen kann optional mit Polarisationsmodulen kombiniert werden und ist dadurch optimal geeignet für Anwendungen in der Geologie, Biologie, Chemie und in Materialwissenschaften. Die unabhängige Steuerung des Polarisators im Anregungsstrahlengang und Analysators im Detektionsstrahlengang ermöglicht unterschiedliche Polarisationseinstellungen in paralleler und orthogonaler Ausrichtung.

Polymer blend of PS and PMMA in differential interference contrast (DIC) microscopy

Polymer blend of PS and PMMA in white light microscopy

Hellfeld (links) und DIC Bild (rechts) einer Polymermischung aus PS und PMMA. Das DIC Bild wurde mit einem Epiplan-Neofluar DIC Objektiv (100x/0.9 NA) aufgenommen.

Partikel im Dunkelfeldmodus ohne (links) und mit Fokus-Stacking (rechts).

Entdecken Sie das Potenzial der WITec Weißlichtmikroskopie

Die Weißlichtmikroskopie in WITec-Systemen überzeugt durch ihre außergewöhnliche Leistung. In diesem Beispiel wurden ohne Probleme kleine Einschlüsse in einem Diamanten gefunden, obwohl sie sich 20 – 50 µm unter der Oberfläche befanden. Das an dieser Stelle aufgenommene konfokale Raman-Bild veranschaulicht die Zusammensetzung der Einschlüsse.

Links: Transmissionsbild (5x/0.13 NA Objektiv) eines Diamenten mit Einschlüssen. Mitte: Vergrößerung eines kleinen Einschlusses im Diamant (100x/0.9 NA Objektiv). Rechts: Zusammensetzung des Einschlusses im Raman Bild des markierten Bereichs. Rot: Diamant; Blau: Gel; Grün: Pyrop.

Fluoreszenzmikroskopie

Kombinieren Sie Raman Mikroskopie und Fluoreszenzbildgebung in einem Gerät. Der optionale Fluoreszenzaufbau für WITec Mikroskope nutzt die laserbasierte Anregung der Probe und detektiert Signale mithilfe einer hochsensitiven Monochromkamera. Passende Emissionsfilter sind für eine Vielzahl kompatibler Wellenlängenkombinationen verfügbar.

Korrelative Raman- und Fluoreszenzmikroskopie von Zellen. Links: DAPI-gefärbte Zellkerne im Fluoreszenzbild. Mitte: Endoplasmatisches Retikulum (grün) und Nukleoli (orange) im Ramanbild. Rechts: Überlagerung des Fluoreszenz- und Ramanbilds.

Anwendungsbeispiele

Biotite mineral imaged using polarization-resolved white-light microscopy

Analyse eines Biotit Dünnschnitts mit Weißlichtmikroskopie in unterschiedlichen Polarisationseinstellungen. Unpolarisiertes Reflektionsbild (A), Transmissionsbild (B), parallel-polarsiertes (C) und kreuzpolarisiertes Transmissionsbild (D).

Mit Bild-Stitching zusammengefügtes Hellfeld (links) und Dunkelfeld Übersichtsbild (rechts) von Partikeln einer ParticleScout Messung.

Feldspar matrix with actinolite fibers in transmission white light microscopy

Detektion von faserförmigem Aktinolith in Feldspat mithilfe von Transmissionsmikroskopie. Bild zur Verfügung gestellt von Didier Lahondère und Guillaume Wille, French Geological Survey, Orléans (BRGM).

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