alpha300 A – Rasterkraftmikroskop (AFM)

Charakterisierung der Oberfläche im Nano-Maßstab

Das WITec Rasterkraftmikroskop alpha300 A ist ein zuverlässiges, hochwertiges Nano-Imaging-System, das in ein optisches Forschungsmikroskop integriert wurde. Es bietet eine hervorragende optische Darstellung der Proben, eine einfache Justierung des Cantilevers und eine hochauflösende Probencharakterisierung.

Die Rasterkraftmikroskope von WITec wurden so entwickelt und gestaltet, dass eine Kombination mit anderen bildgebenden Mikroskopietechniken möglich ist. Dazu gehören: Lumineszenz, Fluoreszenz, Polarisation, Hellfeld, Dunkelfeld, SNOM und Raman Imaging. Alle Verfahren können in ein Gerät integriert werden. Der Wechsel zwischen den Techniken erfolgt denkbar einfach durch Rotation des Objektivrevolvers.

Preisanfrage senden Add to quote list View this product on your quote list

Charakteristische Eigenschaften

Charakterisierung der Oberfläche im Nanometer-Maßstab
Laterale Auflösung: bis zum 1 nm
Tiefenauflösung: < 0.3 nm
Breites Spektrum an AFM-Modi
Nutzerfreundlicher Probenzugang aus jeder Richtung
Anwendung in gasförmiger Umgebung und in Flüssigkeiten
Einzigartige Cantilever-Technik für komfortable Justierung und einfachen Austausch des Cantilevers
Präzise TrueScan™ kontrollierte Scantische, wählbare Scanbereiche: 30 x 30 x 20 µm³, 100 x 100 x 20 µm³ oder 200 x 200 x 20 µm³
Zerstörungsfreie, bildgebende Technik mit minimaler Probenvorbereitung
Gerät kann zusätzlich mit Raman Imaging und optischer Nahfeld-Mikroskopie (SNOM) ausgestattet werden

Anwendungsbeispiele

AFM-Topografie von Calciumcarbonat-Ablagerungen auf der Brust einer Kellerassel (Porcellio scaber).

alpha300A magnetic force mode hard drive

Magnetkraftmikroskopie einer Computerfestplatte. Die Messungen wurden im AC-Modus mit magnetischen Spitzen durchgeführt.

Fossile Bakterien, abgebildet im Digitalen Pulsed Force Modus. Das Bild zeigt unterschiedliche Adhäsionskräfte zwischen AFM-Spitze und Probenoberfläche.

Spezifikationen

AFM Techniken:

Kontakt-Modus
AC-Modus (Tapping Mode)
Digitaler Pulsed Force Modus (DPFM)
Lift Mode™
Magnetkraftmikroskopie (Magnetic Force Microscopy, MFM)
Elektrische Kraftmikroskopie (Electric Force Microscopy, EFM)
Phasenbild
Kraft-Abstands-Kurven
Nanomanipulation und Lithografie
Reibungskraftmikroskopie (Lateral Force Microscopy, LFM)
Chemische Kraftmikroskopie (Chemical Force Microscopy, CFM)
Strom-Spannungsmikroskopie
weitere Modi optional

Mikroskop Eigenschaften:

Optisches Forschungs-Mikroskop mit 6x Objektivrevolver
Videosystem: Okular-Farbbild-Videokamera
LED Weißlichtquelle für Köhler'sche Beleuchtung der Probe und der Cantileverspitze
Manuelle oder motorisierte Positionierung der Probe in x- und y-Richtung
Piezo-getriebene Probentische, Scanbereich 200 μm x 200 μm x 20 μm (andere Scanbereiche erhältlich)
Basis mit aktiver Vibrationsdämpfung

AFM-Cantilever:

Trägheit-getriebene Cantilever-Mechanik für AFM-Sensoren
Verwendung der meisten kommerziell erhältlichen AFM-Cantilever möglich

Sensoren:

AFM-Sensoren, Typ Acoustic AC Modus: mit Reflexbeschichtung, vormontiert auf magnetischen Ringen
AFM Sensoren, Typ Kontakt-Modus: mit Reflexbeschichtung, vormontiert auf magnetischen Ringen
Verwendung der meisten kommerziell erhältlichen AFM-Sensoren möglich

Software Oberfläche:

WITec Software Suite zur Kontrolle des Geräts und der Messungen, zur Datenevaluation und -verarbeitung

Website by Miramar Communications Ltd