Rastersondenmikrsokope

Die Rastersondenmikroskope der alpha300 Serie ermöglichen hochauflösende strukturelle und optische Charakterisierung. Viele gängige AFM-Modi können sowohl ins Rasterkraftmikroskop (AFM) alpha300 A als auch ins optische Rasternahfeldmikroskop (SNOM) alpha300 S integriert werden. Beide enthalten ein hochwertiges Weißlichtmikroskop und bieten alle Optionen zur Probenhandhabung der alpha300 Serie. Das alpha300 S verwendet stabile und praktische Cantilever-Spitzen mit Apertur als SNOM-Sensor.