Korrelative Mikroskope

Das modulare Design der WITec Mikroskope ermöglicht die Kombination verschiedener bildgebender Techniken in einem einzigen Gerät für umfassende Probenanalysen. Zu den verfügbaren Methoden gehören Raman-, Fluoreszenz- und Photolumineszenz-, Rasterkraft- (AFM), optische Nahfeld- (SNOM) und Rasterelektronenmikroskopie (SEM). Der Wechsel zwischen den verschiedenen Methoden erfolgt einfach durch Drehen des Objektivrevolvers, bzw. durch automatisierten Probentransfer zwischen den Messpositionen in korrelativen Raman-SEM (RISE) Systemen.