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alpha300 A – Rasterkraftmikroskop (AFM)

Charakterisierung der Oberfläche im Nano-Maßstab

Das WITec Rasterkraftmikroskop alpha300 A ist ein zuverlässiges, hochwertiges Nano-Imaging-System, das in ein optisches Forschungsmikroskop integriert wurde. Es bietet eine hervorragende optische Darstellung der Proben, eine einfache Justierung des Cantilevers und eine hochauflösende Probencharakterisierung.

Die Rasterkraftmikroskope von WITec wurden so entwickelt und gestaltet, dass eine Kombination mit anderen bildgebenden Mikroskopietechniken möglich ist. Dazu gehören: Lumineszenz, Fluoreszenz, Polarisation, Hellfeld, Dunkelfeld, SNOM und Raman Imaging. Alle Verfahren können in ein Gerät integriert werden. Der Wechsel zwischen den Techniken erfolgt denkbar einfach durch Rotation des Objektivrevolvers.


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Charakteristische Eigenschaften


Anwendungsbeispiele

alpha300A topography woodlouse
AFM-Topografie von Calciumcarbonat-Ablagerungen auf der Brust einer Kellerassel (Porcellio scaber).
alpha300A magnetic force mode hard drive
Magnetkraftmikroskopie einer Computerfestplatte. Die Messungen wurden im AC-Modus mit magnetischen Spitzen durchgeführt.
WITec AFM Bacteria
Fossile Bakterien, abgebildet im Digitalen Pulsed Force Modus. Das Bild zeigt unterschiedliche Adhäsionskräfte zwischen AFM-Spitze und Probenoberfläche.

Spezifikationen

AFM Techniken:

  • Kontakt-Modus
  • AC-Modus (Tapping Mode)
  • Digitaler Pulsed Force Modus (DPFM)
  • Lift Mode™
  • Magnetkraftmikroskopie (Magnetic Force Microscopy, MFM)
  • Elektrische Kraftmikroskopie (Electric Force Microscopy, EFM)
  • Phasenbild
  • Kraft-Abstands-Kurven
  • Nanomanipulation und Lithografie
  • Reibungskraftmikroskopie (Lateral Force Microscopy, LFM)
  • Chemische Kraftmikroskopie (Chemical Force Microscopy, CFM)
  • Strom-Spannungsmikroskopie
  • weitere Modi optional

 

Mikroskop Eigenschaften:

  • Optisches Forschungs-Mikroskop mit 6x Objektivrevolver
  • Videosystem: Okular-Farbbild-Videokamera
  • LED Weißlichtquelle für Köhler'sche Beleuchtung der Probe und der Cantileverspitze
  • Manuelle oder motorisierte Positionierung der Probe in x- und y-Richtung
  • Piezo-getriebene Probentische, Scanbereich 200 μm x 200 μm x 20 μm (andere Scanbereiche erhältlich)
  • Basis mit aktiver Vibrationsdämpfung

AFM-Cantilever:

  • Trägheit-getriebene Cantilever-Mechanik für AFM-Sensoren
  • Verwendung der meisten kommerziell erhältlichen AFM-Cantilever möglich

 

Sensoren:

  • AFM-Sensoren, Typ Acoustic AC Modus: mit Reflexbeschichtung, vormontiert auf magnetischen Ringen
  • AFM Sensoren, Typ Kontakt-Modus: mit Reflexbeschichtung, vormontiert auf magnetischen Ringen
  • Verwendung der meisten kommerziell erhältlichen AFM-Sensoren möglich

 

Software Oberfläche:

  • WITec Software Suite zur Kontrolle des Geräts und der Messungen, zur Datenevaluation und -verarbeitung

Kontakt

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